<strong>作者：Justin Munson</strong>
<strong>范围</strong>
本应用笔记介绍ADI公司高速转换器组表征高速数模转换器(DAC)的性能时所用的测试方法。评估高速DAC时，应当参考本应用笔记和相应的器件数据手册。更多信息，请联系高速转换器组。
<strong>动态测试硬件设置</strong>
测试无杂散动态范围(SFDR)、交调失真(IMD)和噪声谱密度(NSD)等交流(AC)参数的典型硬件设置如图1所示。用于动态测试的基本设置包括DAC时钟的正弦源、低噪声电源、频谱分析仪和数据模式发生器。可以使用各种类型的模式发生器在DAC中驱动CMOS或LVDS数据，包括任意波形发生器(AWG)和现场可编程门阵列(FPGA)等。ADI公司也提供了一种数据模式发生器，以协助进行基准评估。
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<center>图1. 典型交流特征测试设置</center>
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