<strong>作者：Eric Carty</strong>
<strong>简介</strong>
本应用笔记探讨ADGM1304和ADGM1004微机电系统(MEMS)开关，以及这些开关在测试设备应用中发挥的积极作用，特别是在自动测试设备(ATE)应用领域。与RF继电器相比，MEMS开关具有小尺寸优势、高宽带射频(RF)性能、dc/0 Hz精密性能以及机械寿命优势，因而在ATE应用中非常重要。
典型信号链和方框图显示了MEMS开关可在哪些应用中使用，与常用的RF继电器相比，MEMS开关可在哪些方面实现增值，包括减少电路板占用面积和改进性能。本应用笔记还讨论在测试设备中使用的常见继电器，并将其性能与MEMS开关进行了比较。
<a href="http://adi.eetrend.com/files/2018-06/wen_zhang_/100012097-42929-1360cn…; style="color:red;">详文请阅：ADGM1304和ADGM1004如何增加测试仪器仪表的通道密度和测试功能</a>
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