<strong>Mike Curtin 和 Paul O'Brien</strong>
本系列文章的第一部分 介绍了关于锁相环(PLL)的基本概念， 说明了PLL架构和工作原理，同时以一个例子说明了PLL在通 信系统中的用途。
在第二部分中，我们将侧重于详细考察与PLL相关的两个关 键技术规格：相位噪声和参考杂散。导致相位噪声和参考杂 散的原因是什么，如何将其影响降至最低？讨论将涉及测量 技术以及这些误差对系统性能的影响。我们还将考虑输出漏 电流，举例说明其在开环调制方案中的重要意义。
<strong>振荡器系统中的噪声</strong>
在任何振荡器设计中，频率稳定性都至关重要。我们需要考 虑长期和短期稳定性。长期频率稳定性是关于输出信号在较 长时间(几小时、几天或几个月)内的变化情况。其通常以一 定时间内的比率 f/f来规定，单位为百分比或dB。
<a href="http://adi.eetrend.com/files/2018-08/wen_zhang_/100013948-47632-pll-hig…; style="color:red;">详文请阅：用于高频接收器和发射器的锁相环——第二部分</a>
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