考虑到我自己在ADI公司高速应用团队工作，讨论高速ADC是一个合乎逻辑的进程。当我看着这些器件并想到目前担任的航空航天团队应用工程师角色时，我认为谈谈这些产品的辐射效应会很好。在上一期文章中，我们研究了TID（总电离辐射剂量效应）→细说辐射效应（连载2） 。
回想一下，其主要思想是对 ATE 进行辐射前后的测试。这为我们提供了长时间受到辐射时ADC经历的长期影响的信息。辐射基本上就像是一种加速寿命测试，器件被暴露在一定量的辐射下，当反复暴露于辐射时，可以推测器件在太空中的全寿命预期性能。
我在Planet Analog上的文章讨论了高速ADC的单粒子闩锁(SEL)的测试。您可以在这里找到我的博客：Planet Analog - Jonathan Harris - 高速ADC的单粒子效应(SEE)：单粒子闩锁（SEL）。这个概念与您在典型器件闩锁测试中的预期非常相似，不过在这种情况下，闩锁是由辐射引起。此测试通常在其他单粒子效应测试之前完成，因为它可能具有破坏性。有很多方法可以降低风险，使用额外的电路来检测和防止闩锁情况，但在许多应用中，不希望产品在较低LET值时闩锁。附加电路会占用空间、消耗电力并增加成本，因此不是优先选项，但在某些情况下可以实施。
作为本月博客中的一个示例，我查看了AD9246S测试报告，其显示了器件的SEL性能。为了寻找SEL，须监测器件受辐射期间的电源电流，寻找电流的突然增加。AD9246S性能非常好，在测试中电源电流几乎没有变化。下面有一张示例图，显示了AD9246S在测试期间的AVDD电流，其中器件暴露于80 MeV-cm2/mg的LET，总通量为1.0E+07离子/cm2。参阅我在Planet Analog上的博客，了解更多细节。
单粒子效应
我们已开始TID效应的讨论之旅，并转到当前的SEE话题（单粒子效应），这里说说一类被称为SET（单粒子瞬态）的SEE，这些事件本质上是瞬间发生的。此类事件发生的时间很短，不要求器件复位即可恢复正常操作。通过这些事件可观察到某种短暂的器件翻转现象，经过很短时间后器件恢复正常。对于高速ADC，这可以通过一个很短的时间来说明，在该时间内，输出码超出指定阈值，然后返回到正常水平而不需要复位ADC。
希望大家喜欢迄今为止所有这些关于辐射效应的讨论之旅。您可以在我的Planet Analog博客中找到更多信息：Planet Analog - Jonathan Harris - 高速ADC的单粒子效应(SEE)：单粒子瞬态(SET)。相信大家会继续关注我下一篇博客中的SEE，我们将仔细看看SEU（单粒子翻转）， 敬请期待！