【ADI 工程师博客】高速ADC的单粒子闩锁和瞬态
selina -- 周五, 08/24/2018 - 12:19考虑到我自己在ADI公司高速应用团队工作,讨论高速ADC是一个合乎逻辑的进程。当我看着这些器件并想到目前担任的航空航天团队应用工程师角色时,我认为谈谈这些产品的辐射效应会很好。在上一期文章中,我们研究了TID(总电离辐射剂量效应)→细说辐射效应(连载2) 。
回想一下,其主要思想是对 ATE 进行辐射前后的测试。这为我们提供了长时间受到辐射时ADC经历的长期影响的信息。辐射基本上就像是一种加速寿命测试,器件被暴露在一定量的辐射下,当反复暴露于辐射时,可以推测器件在太空中的全寿命预期性能。
我在Planet Analog上的文章讨论了高速ADC的单粒子闩锁(SEL)的测试。您可以在这里找到我的博客:Planet Analog - Jonathan Harris - 高速ADC的单粒子效应(SEE):单粒子闩锁(SEL)。这个概念与您在典型器件闩锁测试中的预期非常相似,不过在这种情况下,闩锁是由辐射引起。此测试通常在其他单粒子效应测试之前完成,因为它可能具有破坏性。有很多方法可以降低风险,使用额外的电路来检测和防止闩锁情况,但在许多应用中,不希望产品在较低LET值时闩锁。附加电路会占用空间、消耗电力并增加成本,因此不是优先选项,但在某些情况下可以实施。